設備一覧

形態観察

設備 略称
走査電子顕微鏡 SEM
低エネルギー走査電子顕微鏡 LE-SEM
低真空走査電子顕微鏡 LV-SEM
透過電子顕微鏡 TEM
走査型プローブ顕微鏡 SPM
3次元粗さ顕微鏡  
電子線後方散乱回折装置 EBSD
接触式表面段差計  
X線CT装置  
集束イオンビーム加工装置 FIB
イオンミリング加工装置  
ブロードイオンビーム加工装置 BIB

表面分析

設備 略称
X線光電子分光分析装置 XPS, ESCA
オージェ電子分光分析装置 AES
二次イオン質量分析装置 D-SIMS
飛行時間型二次イオン質量分析装置 TOF-SIMS
X線マイクロアナライザ XMA, EPMA

無機分析

設備 略称
誘導結合プラズマ発光分光分析装置 ICP-AES
誘導結合プラズマ質量分析装置 ICP-MS
イオンクロマトグラフ分析装置 IC
蛍光X線分析装置 XRF
X線回折装置 XRD

有機分析

設備 略称
ガスクロマトグラフ分析装置 GC
ガスクロマトグラフ質量分析装置 GC/MS
直接導入型質量分析装置 DI-MS
高速液体クロマトグラフ分析装置 HPLC
ゲル浸透クロマトグラフ分析装置 GPC
フーリエ変換赤外分光分析装置 FT-IR
顕微レーザーラマン分析装置 Raman
核磁気共鳴分析装置 NMR
電子スピン共鳴分析装置 ESR
紫外・可視・近赤外分光光度計 UV-VIS-NIR
全有機体炭素分析 TOC

物性評価

設備 略称
示差熱・重量分析装置 TG/DTA
示差走査熱量計 DSC
熱機械分析装置 TMA
動的粘弾性測定装置 DMA
全自動比表面積測定装置  
粒度分布測定装置(レーザー回折・散乱式)  
カールフィッシャー水分計  
マイクロビッカース硬度計  
ダイナミック硬度計  
自動接触角計  


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