分析事例

形態観察

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非破壊観察による部品内部構造の調査
透過電子顕微鏡(TEM)によるナノ構造デバイスの解析
はんだ接合部の出来栄え解析と信頼性コンサルティング
偏光顕微鏡による樹脂溶着箇所の解明
リターディング法による極表面SEM観察
透過電子顕微鏡(TEM)によるBlu-rayディスクの記録マーク観察
低加速STEM法による有機多層膜の観察
走査型プローブ顕微鏡(SPM)による表面形状と電流分布の計測
BIB加工を用いた複合材料の断面構造観察
機能性高分子膜の冷却断面加工
FIB-SEMによる3D構造観察技術
EBSD法による結晶方位マッピング解析
WDXによる実装デバイスの定量分析
めっき膜断面の結晶粒観察
電子染色による樹脂材料中のゴム添加剤の可視化
微小部の結晶構造出来栄え評価

表面分析

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プラズマ処理による表面改質状態の分析
表面分析を活用したボンディング不具合原因解明
TOF-SIMSによるデバイスの多層構造解析
極低加速SEM観察による有機物汚染の評価(ボンディング不良原因の解明)
TOF-SIMSを用いた表面付着物の分析
ガスクラスターイオン銃を用いたXPS深さ方向分析

構造解析

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エポキシ樹脂の材料設計支援 (ソリューションテーマ事例)
絶縁性能把握のための酸化膜の欠陥量評価
EBSD法を用いた結晶方位・粒径解析による薄膜評価
微小異物分析による工程不良原因の特定
ラジカル硬化樹脂の重合反応解析
MALDI-MSを用いた樹脂材料の構造解析
フェノール樹脂材料の詳細構造解析

有機分析

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顕微レーザーラマン分析による微小点組成分析
ESRによる活性酸素種の定量および抗酸化能評価
顕微ラマン分析によるアクリル樹脂の硬化度評価
HPLCを用いた微量成分分析
アミノ酸の定量可視化
食品に含まれる色素の定量分析
GC/MSによる有機シロキサンの評価技術
JIS規格対応VOC評価とアウトガス分析
シリコン樹脂の酸化劣化評価
複合樹脂材料の組成分析1 (溶剤分離による主成分・添加剤の特定)
複合樹脂材料の組成分析2 (クロマトグラフ分離による微量成分の特定)
透明樹脂における短期間での耐光性能見極め

物性評価

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マイクロビッカースによるめっきの評価
接触角計による固体の表面自由エネルギーの測定
TMAによる高温での線膨張係数の測定
デバイス中の個別トランジスタの動作評価


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