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こんにちはユーザビリティの丸山です。


2017年7月10日にプレスリリースさせて頂いた、
Jコンセプトシリーズの2017年新商品の掃除機にて、私の一押し技術であり、かつ、商品ユーザビリティの可視化・定量化技術の一つである、動作解析(モーションキャプチャ)による負担感評価技術を活用いただきましたので紹介します。

「掃除機の違いによる気持ちと身体への負担感軽減を検証」


この評価では、モーションスーツを活用したモニター実験により、掃除機利用時の腰の曲げ角度の変化を定量的に把握するだけでなく、人体シミュレーション技術(デジタルヒューマン)により、掃除機利用時の腰の曲げ角度と身体負担の関係を検証することで、従来の掃除機と比較して負担が軽減されることを明らかにすることができました。


私たちは、今回紹介させていただいた事例のように、人間工学や感性工学、人体シミュレーション技術などの様々な知見を活用して分析することで、実験により取得された計測データを商品開発や訴求に活用できるデータに昇華させることに取組んでいます。


ユーザビリティ評価をはじめとした、ユーザを解析する技術を下記HPにご紹介させていただいています。
興味のある方は、是非覗いてみて下さい。


負担感評価の事例
http://www2.panasonic.co.jp/aec/usability/strain.html

独自開発のデジタルヒューマン技術
http://www2.panasonic.co.jp/aec/usability/degital-human.html

 篠山EMCサイトの山中です。


5月15日に篠山EMCサイトにてTUV Rheinland試験所の更新監査を受審し,品質システム監査,及び実技監査ともに無事更新監査が終了しました。


今回の監査では,新しく下記のスコープを追加しました。


①3相電源に対する電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験: IEC/EN 61000-4-11

従来の単相に加え,3相電源に対する全てのEMC評価が,篠山サイトで実施できるようになりました。

3相.jpgのサムネイル画像

電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験


②6 GHzまでの放射イミュニティ試験:IEC 61000-6-1:2016,IEC 61000-6-2:2016,IEC 60601-1-2:2014,CISPR 35:2016

6GHz.jpgのサムネイル画像

6 GHzまでの放射イミュニティ試験


一般規格(generic standard) であるIEC 61000-6-1,-2は2016年に改訂され,6 GHzまでの放射イミュニティ試験が必須になっています。
医用電気機器に対する規格であるIEC 60601-1-2:2014,マルチメディア機器に対する規格であるCISPR 35:2016は,6 GHzまでのワイヤレス通信等に使用される周波数帯に対し,試験実施が推奨されています。


また、TUV Rheinlandの認証を更新する事で,各国のEMC指令に基づく評価だけではなく,低電圧指令「家庭及び類用途の電気機器-安全性-:IEC 60335-1」や機械指令「機能安全規格:IEC 61326-3-1」のEMC要求事項についても試験が可能です。1箇所の試験所にてEMCと安全の両試験を実施することで,試験時間の短縮が可能となります。


今後も継続して,スキル向上に努め,皆様のお役に立てればと思っております。
EMCに関することでしたら,お気軽にご相談下さい。



EMC試験については こちら↓

http://www.panasonic.co.jp/aec/emc/index.html

 電力試験担当の渡邊です。


1月27日、日本配線システム工業会様より、JIS C 5381-11の改定に関する検討実験をご依頼いただきました。


今回、実験したJISの改定ポイントは、8.3.5.3.2 SPD(避雷器)の故障モードを模擬するための追加試験です。
SPDと同時に使用される分離器との組み合わせにおいて、SPDが故障モードになった際、SPD又は分離器で正常に電源から切り離されることの確認を目的とした試験となっております。

CIMG8161.jpg
写真は実験中の様子です。
今回は実際にSPDを搭載した分電盤に100A,500A,1000Aを通電し、その遮断状態をご確認いただきました。


私共は試験だけでなく、今回のような実験検討もサポートさせて頂いております。
大電流に関わる技術課題がございましたら、ぜひ一度お問い合わせください。



大電力試験はこちら↓
http://www2.panasonic.co.jp/aec/safety/short.html


電気安全のご紹介はこちら↓
http://www2.panasonic.co.jp/aec/safety/index.html

信頼性ソリューション部 製品評価課の高木です。


パワーデバイスは、電源(電力)の制御や供給を行う半導体であり、車載関連、蓄電システムなど、私たちのまわりの色々な製品に使われており、今後もエネルギー、環境分野での応用が期待されています。反面、扱う電圧や電流が大きく、使用環境も厳しいことから、故障や事故につながる可能性がある為、高い信頼性が要求されています。
Power Device Reliability1_20170118.jpg

このような開発環境を考慮し、この度、大容量パワーデバイスの評価が可能な設備を導入しました。

また、1台あたりの定格電力は、8kWですが、最大5台並列して運転(40kW)することも可能です。


Power Device Reliability2_20170118.jpg

<試験サービス>

高温もしくは高温高湿環境下で高電圧(~850V)を印加して、絶縁劣化の故障モードを再現する試験です。 劣化状態は、リーク電流を常時測定することにより把握することができます。


Power Device Reliability3_20170118.jpg 併せて、『限られた期間内で信頼性試験をしたい』、『新製品の安全性を評価したい』といったお困りごとが ございましたら、お気軽にご相談ください。


▼その他の信頼性に関するお困りごとはこちら:

http://www2.panasonic.co.jp/aec/reliability/index.html

電気ソリューション部 電子回路設計課の荻野です。


ここ数年、プリント基板上のDRAMの解析・設計のご依頼案件はDDR3が多かったのですが、2015年頃から新たにLPDDR4のご依頼もいただいておりますので、その際の留意点についてご紹介いたします。


DDR3からLPDDR4へ移行する際のハード設計における主な留意点は、動作周波数の高速化、伝送波形の低振幅化です。DDR3とLPDDR4との差異について、それぞれのデータ信号のSI解析波形を同じスケールで表示したものを示します。

DDR3とLPDDR4.png

仮にDDR3同様のジッタやノイズがLPDDR4にも発生する場合、信号波形が伝送できないことは一目瞭然です。

これまでDDR3の規格を満たした基板設計を行っていても、同様の設計でLPDDR4の規格を満足できるとは限りません。そのため、プリント基板上の信号配線の検討のみではなく、 LPDDR4と接続するLSI/パッケージの特性や基板の基材選定、バイパスコンデンサの配置等、幅広い項目に配慮して設計する必要があります。

我々はパナソニックのデジタルTV等のAV機器を初め、長年にわたりDRAM周りの解析、設計を支援させていただいており、いくつかの事例をこちらで(http://www2.panasonic.co.jp/aec/electric/example.html)ご紹介しております。DRAMの高速化やジッタ対策などお困りごとがございましたらお気軽にお問合せください。



高速信号回路の「リーン設計技術」のページ↓

http://www2.panasonic.co.jp/aec/electric/lean-design.html


お問い合わせはこちらからどうぞ↓

https://www2.panasonic.co.jp/aec/inquiry/index.php?to=electric


電気ソリューション部 電子回路設計課の大住です。これからEMCに携わる技術者の方々に、お勧めの記事を紹介いたします。

月刊EMCの特集「0(ゼロ)からのEMC対策と設計」にて、2014年10月23日(金)に開催された第21回EMC環境フォーラムで講演した一部を掲載しております。私が執筆を担当させていただいた「はじめてのEMC対策」では、EMC対策を5項目に分け、対策のポイントと各々の具体事例をご紹介しております。

はじめてのEMC対策とありますが、基板設計においてチェックすべき項目を多数掲載しています。本内容をまとめておけば、基板設計時のチェックに活用できますので、EMC設計・対策経験者の方にも是非一読いただければ幸いです。

 

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月刊EMC2016年12月号(No.344)

【特集】 0(ゼロ)からのEMC対策と設計

はじめてのEMC対策 ―解決に至るアプローチとは―
  1. はじめに
  2. EMC対策の基本
  3. EMC対策事例の紹介
  4. EMC対策で重要なこと


月刊EMCのご紹介ページはこちら↓

http://www.it-book.co.jp/EMC/index.html


プロダクト解析センターの電子回路解析ページはこちら↓

http://www2.panasonic.co.jp/aec/electric/index.html

EMCデザインプロセスのコンサルティングを担当しています小山です。

最近、「EMC対策で毎回困っているので、何か良い方法はないか?」との問い合わせを多くいただくようになりました。

パナソニックでは、約10年前から、EMC設計の完成度を向上させるための取り組み(プロセス革新)を行っています。そして今回、これまで積上げてきた手法や事例を、SPIDER(System of Panasonic Innovation Design for EMC Requirement)として整理し、お客様に対してコンサルティングの提供を開始いたしました。

詳しい内容は、ご紹介ページをご覧下さい。


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SPIDERの様子


 現在、何社かのお客様とSPIDERの取組みを実践しております。「やり方が勉強になった。独自に展開してみたい。ノウハウが抽出できて良かった。」等、喜んでいただけてやりがいを感じています。皆様からのご相談をお待ちしております。



パナソニック式 EMCデザインプロセス"SPIDER"のページ↓

http://www2.panasonic.co.jp/aec/electric/spider.html


お問い合わせはこちらからどうぞ↓

https://www2.panasonic.co.jp/aec/inquiry/index.php?to=electric


デバイス評価課の金田です。


この度、プロダクト解析センターでは、"国内で飛散している全11種類の花粉"を見える化できる技術を確立しました。

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皆さんは花粉症にお困りではありませんか? 私は大学入学を機に、北海道に引っ越しました。それまでずっと春先に悩まされていた、スギ花粉の花粉症から解放されると喜びました。しかし、入学して間もなく再び花粉症に悩まされました。その犯人は、シラカンバの花粉です。北海道で広く植生しているシラカンバの花粉は、4~6月にかけて飛散します。北海道では無縁だと思っていた、花粉症。実は花粉症の原因となる花粉は、ほぼ一年中日本のどこかで飛散しています。

【国内における全11種の花粉の飛散時期】

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今回ご紹介する評価サービスは、タンパク質の分離・見える化に用いられる電気泳動法を応用したものです。花粉対策商品を運転前後の花粉アレル物質を電気泳動法により分離・見える化することで、その効果を評価することが可能です。

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花粉アレル物質の見える化の事例


花粉対策商品の開発でお困りの方、是非、本センターの花粉対策商品の効果の見える化評価サービスをご活用ください。


篠山サイトの山中です。


この度、プロダクト解析センター篠山サイトに三相機器に対応した電圧ディップ・瞬停試験機を導入しました。(対応規格:IEC/EN/JIS C 61000-4-11)


これにより、三相機器の全てのEMC試験が篠山サイトにて実施できるようになりました。


三相の電圧ディップ試験は単相と違い、下記のような図のように規定されています。


 ・三相4線式の機器は、各相の相電圧試験と線間電圧試験の2つの試験を実施します。
 ・三相3線式の機器は、線間電圧試験のみ実施します。


相電圧試験は、試験を実施する相のみ電圧を変動させ、他の相は固定です。
線間電圧試験は、二つの相を固定して残りの一相を動かします。
動かす相は、電圧を変動させると共に位相もずらします。
(100%時の位相を基準に、70%時は約25°、40%時は約79°)


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三相機器のEMC試験をご検討の際は、是非ご相談ください。


これからも最新規格に対応した設備導入を進めていきますので、ご要望などございましたら、お気軽にお問合せください。


試験装置のスペックは こちら↓
http://www2.panasonic.co.jp/aec/emc/equipment-s-big.html

こんにちは、材料ソリューション部の竹野です。
2016年10月19日に日本表面科学会主催の第62回 表面科学基礎講座(大阪大学 豊中キャンパス)にて、二次イオン質量分析法(SIMS)の講師を担当させて頂きました。
今回、大阪大学の豊中キャンパスを初めて訪れましたが、快晴の秋晴れも手伝い、紅葉前の銀杏並木をとても清々しく感じることができました。

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大阪大学豊中キャンパスの銀杏並木


表面科学基礎講座は、表面分析や界面分析の初心者や若手技術者を対象として、日本表面科学会が主催となり、毎年開催されている講座です(参加者は約40名)。今回は、特に飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)を中心にした内容とし、分析の原理から取得できるデータの特徴、分析設備の構成、実際の分析事例などをお話しいたしました。
TOF-SIMSは、検出感度が高いこと、極表面(~2nm)の分析ができること、分子構造を検出できることなど、様々な特徴があり、非常にユニークな分析手法です。聴講にいらっしゃった皆様から、講演後に熱心なご質問やコメントを頂くことができ、改めて興味を引かれる分析手法だと感じることができました。
TOF-SIMSの詳細な説明については、こちらをご覧ください。

http://www2.panasonic.co.jp/aec/blog/analysis/2014/03/tof-sims.html



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講演中の筆者

有機薄膜デバイスの開発、表面の汚染トラブル、洗浄プロセスの検討、あるいは生体材料のイオンイメージングなど、開発や研究において材料表面にまつわるお困りごとをお持ちの方がおられましたら、もしかするとTOF-SIMSなどの表面分析手法で解決策が見つかるかもしれません。ご遠慮なく、弊社のホームページからお問い合わせください。

https://www2.panasonic.co.jp/aec/inquiry/index.php?to=analysis

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