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開発上流からのEMC設計を支援いたします

長年の商品設計・市場対応の経験を活かし、開発段階でのEMC設計から、市場対応(EMC対策)まで、あらゆるステージで皆さまの商品開発をサポートいたします。 プロダクト解析センターでは、専任のEMC設計技術者を有しており、回路シミュレーションや、EMCのデザインレビューを通じ、開発上流からのEMC設計を支援いたします。 また、徹底した情報セキュリティ管理により、情報漏えいの発生を防止しております。また、お客様のご要望に応じまして、秘密保持契約(NDA)を締結の上、ご対応させていただきます。

主なソリューション(回路のEMC設計から、現場での測定・対策まで)

設計フェーズと主なソリューション

開発STEP

設計段階から、電磁界解析等を用いて、信号高速化や低EMIに貢献します。

電磁界解析 SI/PI

評価STEP

近傍磁界測定器等によるノイズの見える化で、設計・開発のリードタイムを大幅に短縮します。

市場STEP

市場でのEMCトラブルに対し、現状把握、原因の探索、及び対応策の立案を通じて、トラブルの速やかな終息、再発防止をサポートします。

EMI抑制設計支援ツール:DEMITASNX

DEMITASNX他社HP(NEC)は、日本電気株式会社が開発したEMI抑制設計支援ツールです。プリント基板から発生する放射ノイズを抑えるための改善点のアドバイス(ルールチェック)をはじめ、プレーン共振解析、PI解析、ESD耐性チェックなど、効率的なEMC設計をサポートします。
プロダクト解析センターでは、篠山EMCサイトにDEMITASNXを導入しております。オープンサイト、ならびに電波暗室をご利用の方には無償にてご利用いただけますので、ぜひお気軽にご利用ください。


DEMITASNXRは、(株)NEC 情報システムズの登録商標です。



EMIチェック機能

EMIの原因となる部品配置や配線、プレーン部分を抽出し、その対策案を示します。チェック結果は、エラー内容と改善策をまとめて分かりやすくレポート形式で出力できるため、レイアウト設計へのフィードバックが容易です。



チェック結果の報告書例 992KB(PDF)
【チェック項目】
1. 配線長チェック  2. ヴィア数チェック  3. GV プレーンまたぎチェック  4. リターンパス不連続チェック  5. 基板端チェック  
6. 放射電界チェック  7. SGパターン有無チェック  8. SGパターンヴィア間隔チェック  9. プレーン外周チェック  10. フィルタチェック  
11. デカップリングキャパシタチェック  12. 差動信号チェック  13. クロストークチェック

EMIチェック機能

プレーン共振解析は、電源-GNDプレーン間の平行平板共振を解析するものです。プレーン共振が発生した場合には、大幅に放射ノイズが増加するため、確実な抑制が必要です。



また、解析センターでは、近傍電磁界測定装置を保有しており、実測定によりプレーン共振の発生状態を確認することができます。DEMITASNXの解析結果と併せて設計検討を行うことで、プレーン共振の効果的な抑制が可能です。



お問い合わせ先:メールまたはフリーダイヤル 0120-872-207【受付時間】平日9:00~17:15



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