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信頼性試験(コンデンサの劣化評価・寿命予測)

加速劣化試験による電子部品の劣化寿命予測

一般的に、電子回路の寿命は、その回路を構成する電子部品、特に受動部品 (コンデンサ、巻線、抵抗など)やはんだクラックの故障時間によって決定されます。 そこで、お使いの環境(温度、湿度、温度サイクル)やバイアス(電圧、電流)によって、下図のように回路に搭載された個々の電子部品が「いつ?どのくらいの割合」で故障するかを予測します。その結果、電子回路としての寿命がわかります。


こんな場面でお役に立てます!
回路設計時に 商品評価時に
○もっと小さな(定格の低い)部品は使えないかな? ○使用環境で目標寿命はクリアしてるのかな?
○定格違いのAとBどちらの部品がいいのかな? ○部品のディレーティング大丈夫かな?

アルミ電解コンデンサの劣化寿命予測

アルミ電解コンデンサ


寿命が短いことで知られているアルミ電解コンデンサの寿命予測は、定格寿命が105℃ 10000時間のものでも1500時間程度の加速試験で寿命予測をしております。  ここでは、日本製の一般的なアルミ電解コンデンサについて、加速試験で得られた係数を基に、お使いの温度環境や電圧・電流に対する故障時間の算出方法をご紹介いたします。

アルミ電解コンデンサの寿命予測計算はこちら

本予測式より算出する結果は、あくまで当社独自に導出した加速係数をもとにしております。コンデンサのメーカによって、その加速係数は異なりますので、算出される結果は、あくまで目安程度にお考えください。 なお、海外部品については、また違った係数が必要になります。
海外部品に関する寿命予測につきましては、個別にお問合せください。

フィルムコンデンサの劣化寿命予測


アルミ電解コンデンサに次いで寿命が短いフィルムコンデンサの寿命予測は、温度・電圧要因や温湿度・電圧要因に対する加速試験で寿命予測をしております。 ここでは、日本製のフィルムコンデンサに関しまして、加速試験で得られた係数を基に、お使いの温湿度環境や電圧に対する故障時間の算出方法をご紹介いたします。

フィルムコンデンサの寿命予測計算はこちら

本予測式より算出する結果は、あくまで当社独自に導出した加速係数をもとにしております。コンデンサのメーカによって、その加速係数は異なりますので、算出される結果は、あくまで目安程度にお考えください。なお、海外部品については、また違った係数が必要になります。
海外部品に関する寿命予測につきましては、個別にお問合せください。

寿命予測に関する費用について

1.当社独自の加速係数を用いて算出する場合 2.海外部品など新しく寿命加速式を算出する場合
1回 10,000円

(1回とは1部品、1ストレス条件で、ご要望の故障確率での故障時間算出)

1部品、1ストレス 500,000円〜

(ご相談に応じさせて頂きます)

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