HALT試験(Highly accelerated limit test)とは

製品に強いストレスをかけ壊れるまで試験することで、数日程度で製品の弱点が明らかにし、 弱点を改善することで、結果的に信頼性の向上ができる定性的な加速試験方法。


HATL試験流れ

試験の基本

不都合の短期再現、未然防止

決められた試験での合否判定ではなく、どのくらい仕様に対する余裕があるかを見極める。 温度+振動のストレスを加える装置のため、湿度、腐食ガス等は評価できない。

<不具合の短期再現、未然防止>
不都合の短期再現

HALT装置

HALT本体(構内は窒素置換)

高速温度変化&6軸ランダム振動を同時に印加できる高加速試験装置
 (米国QualMark社製 Typhoon2.5)

 ①温度:-100~200℃(60℃/分以上)
  ・冷却:液体窒素をガス化して噴射
  ・加熱:40Kwニクロム型ヒータ
 ②6軸ランダム振動:
  ・最大50Grms(10~5000Hz)
  ・加振:エアシリンダ(8機)のハンマーで振動盤を叩き、インパルス状衝撃を連続発生

対象の弱点を顕在化し開発期間の短縮に貢献
5つのステップストレス試験や複合振動試験などで、製品の弱点 を見つけ出し、改良・対策の後、再試験で良い結果が得られれば、 製品の仕様に反映し、従来型の信頼性試験での確認を行います。 長時間の信頼性試験を再度行うリスクが低減でき、コスト及び 開発期間の短縮に貢献します。
また、不具合の内容によっては、従来型の信頼性試験では再現が難しいトラブルも、HALTで短時間で再現できる場合もあります。

試験方法

<ステップストレス試験>

ストレス(温度、振動)をステップ状に変化させて加え、その都度、機能確認によりOK又はNGをチェック

ステップストレス試験
複合振動試験
<複合振動連続試験>

連続で50Grmsのランダム振動の強いストレスを加えることで、
はんだやカシメなどの接続部の不具合を短時間で顕在化します。

HALT評価の事例

事例① : コネクタの接触不良

 製品中に使用されていたコネクタの接触不良が原因の不具合が発生したので、使用されていたNon-ZIFタイプと変更予定のZIFタイプをHALTにて比較

◆試験試料:FFC(Flexible Flat Cable) ハウジング10極
試験試料
◆HALTへの取付け
HALTへの取付け
◆試験条件
試験条件

◆試験結果
試験結果

事例② : はんだ接続部評価の加速検討

 ヒートショック試験(以下、HSTと記す)に対するHALTのはんだクラックの加速性を調査

◆試験条件

試験条件
基板 試験脚気
◆試験試料(基板)

①部品:7.92mmピッチ4ピンコネクタ雄
②鉛フリーはんだ:2種類
 ・Sn3.0Ag0.5Cu(以下、3Agと記す)
 ・Sn0.7CuNi(以下、Ag無と記す)
③基板:ガラスエポキシ,紙フェノール 2種類
 ・面積比R(ランド,ホール寸法の組み合せ)を12種類

◆はんだ量と耐クラック性、及びHSTとHALTの加速性考え方
はんだ量と耐クラック性、及びHSTとHALTの加速性の考え方
◆試験:試験実施状況
試験実施状況
◆HALTとHSTのはんだクラック例
HALTとHSTのはんだクラック例
◆試験結果:HSTとHALTの比較
HSTとHALTの比較
◆結果まとめ
結果まとめ

①本試験条件に於いてはHSTとHALTとの強い加速性が認められた。
 ⇒時間換算で約100倍
②HALTの加速性には振動ストレスが効果的に寄与している。
 ⇒繰り返し振動応力がはんだクラック生成に大きく影響している。



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