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分析解析一覧表

本一覧表はあくまで目安です。正式な見積書は別途ご相談下さい。

1. 形態観察
試料調整
走査型電子顕微鏡観察 (SEM)
光学顕微鏡 (OM)
原子間力顕微鏡 (AFM)
2. TEM観察
試料前処理
明視野像観察/暗視野像観察
暗視野像追加観察
格子像観察
3. 結晶解析
試料調整
後方散乱電子回折パターン法 (EBSD)
X線回折 (XRD)
4. 表面分析
試料調整
波長分散型X線マイクロアナライザ (WDX)
エネルギー分散型X線マイクロアナライザ (EDX)
オージェ電子分光分析 (AES)
X線光電子分光分析 (XPS)
二次イオン質量分析 (SIMS)
飛行時間型二次イオン質量分析 (TOF-SIMS)
5. 元素分析
誘導結合プラズマ発光分光分析 (ICP-AES)
誘導結合プラズマ質量分析 (ICP-MS)
蛍光X線分析 (XRF)
6. クロマトグラフ分析
ガスクロマト分析 (GC)
液体クロマトグラフ (HPLC)
ゲル浸透クロマトグラフ (GPC)
イオンクロマトグラフ
7. 有機材料分析
ガスクロマトグラフ/質量 (GC/MS)
イオントラップ型質量分析 (LC/MS)
直接導入質量分析 (DI-MS)
フーリエ変換赤外分光分析 (FT-IR)
ラマン分光分析
フーリエ変換核磁気共鳴 (NMR)
電子スピン共鳴 (ESR)